Результаты поиска
Ключевые слова:: 'Элементный анализ '
19 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спект...
17-18 октября 2017 года в конференц-зале института состоялся семинар по Аналитическому центру ДВГИ ДВО РАН. Осн...
Оборудование Agilent Technologies для элементного анализа
22 июня 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар «Современные направления развития анал...
Новейшие решения для элементного микро- и наноанализа
19 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спект...
Обзор модельного ряда сканирующих электронных микроскопов TESCAN
18 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар «Современное оборудование для сканирую...
6 апреля 2016 г. Конференц - зал ДВГИ ДВО РАН. Докладчик: Сергей Назимов – руководитель отдела продаж органичес...
17-18 октября 2017 года в конференц-зале института состоялся семинар по Аналитическому центру ДВГИ ДВО РАН. Осн...
17-18 октября 2017 года в конференц-зале института состоялся семинар по Аналитическому центру ДВГИ ДВО РАН. Осн...
17-18 октября 2017 года в конференц-зале института состоялся семинар по Аналитическому центру ДВГИ ДВО РАН. Осн...
17-18 октября 2017 года в конференц-зале института состоялся семинар по Аналитическому центру ДВГИ ДВО РАН. О...
Всероссийский семинар «СОВРЕМЕННЫЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ ДЛЯ ФУНДАМЕНТАЛЬНЫХ НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ ...
По инициативе совета молодых ученых ДВГИ ДВО РАН, 7 ноября 2016 г. состоялся научный семинар-лекция. Д.г.-м.н. Иг...