Новейшие решения для элементного микро- и наноанализа

1088

0

Описание

admin

By: admin

Date Uploaded: 05/24/2016

Tags: Микроанализ   Элементный анализ  

19 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спектрометрия вторичных ионов в исследовании наноразмерных систем" // Федик Игорь Викторович, к.ф.-м.н. официальный представитель компании CAMECA

Поделится

ссылка

Copy and paste this code into your website or blog.

Add To

You must login to add videos to your playlists.

Коментарии

to post comments.

Comments are closed for this video.