Приложения NanoSIMS: суб-микронный и изотопный анализ высокой чувствительности в задачах материаловедения, гео- и космохимии и биологии.

534

0

Описание

19 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спектрометрия вторичных ионов в исследовании наноразмерных систем" // Philippe Saliot – CAMECA FRANCE

Поделится

ссылка

Copy and paste this code into your website or blog.

Add To

You must login to add videos to your playlists.

Коментарии

to post comments.

Comments are closed for this video.