Обзор модельного ряда сканирующих электронных микроскопов TESCAN

979

0

Описание

18 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар «Современное оборудование для сканирующей электронной микроскопии и для создания и исследования нанопокрытий» // Мария Лукашова, к.ф.-м.н., специалист-аналитик ООО «ТЕСКАН» (Санкт-Петербург)

Поделится

ссылка

Copy and paste this code into your website or blog.

Add To

You must login to add videos to your playlists.

Коментарии

to post comments.

Comments are closed for this video.