Описание
By: admin
Date Uploaded: 05/25/2016
Tags: Атомо-зондовая томография Микроанализ Материаловедение Ионный пучек
19 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спектрометрия вторичных ионов в исследовании наноразмерных систем" // Philippe Saliot – CAMECA FRANCE
Add To
You must login to add videos to your playlists.
Коментарии
Sign In to post comments.
Comments are closed for this video.