Описание
By: admin
Date Uploaded: 05/20/2016
Tags: Сканирующий электронный микроскоп Элементный анализ Микроанализ
18 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар «Современное оборудование для сканирующей электронной микроскопии и для создания и исследования нанопокрытий» // Мария Лукашова, к.ф.-м.н., специалист-аналитик ООО «ТЕСКАН» (Санкт-Петербург)
Add To
Коментарии
Sign In to post comments.
Похожее видео
