Результаты поиска
Ключевые слова:: 'Спектрометрия'
Масс-спектрометр фторичных ионов NanoSIMS. Технология.
19 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спект...
Введение в метод атомо-зондовой томографии. Технология
19 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спект...
Рентгенофлуоресцентные спектрометры X Supreme8000 и установки для сплавления проб Claisse.
18 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар «Современное оборудование для сканирующ...
Оборудование Agilent Technologies для элементного анализа
22 июня 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар «Современные направления развития анал...
Новейшие решения для элементного микро- и наноанализа
19 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спект...
19 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спект...
Приложения метода атомо-зондовой томографии: от материаловедения до геологии и биологии
19 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спект...
17-18 октября 2017 года в конференц-зале института состоялся семинар по Аналитическому центру ДВГИ ДВО РАН. Осн...