Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 и его применение

By: admin

Date Uploaded: 02/04/2020

Tags: Jeol  

30 января 2020 года в конференц-зале Дальневосточного геологического института ДВО РАН компании JEOL и Interactive Corporation (Япония) при участии регионального представителя ПТФ «Корпус» (Владивосток) провели научно-практический семинар «Применение новой модели настольного сканирующего электронного микроскопа JCM-7000 с интегрированной системой элементного микроанализа». На семинаре сервисный инженер российского представительства компании JEOL Олег Кулинич прочитал лекцию «Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 и его применение».