The video could not be loaded, either because the server or network failed or because the format is not supported.
Описание
30 января 2020 года в конференц-зале Дальневосточного геологического института ДВО РАН компании JEOL и Interactive Corporation (Япония) при участии регионального представителя ПТФ «Корпус» (Владивосток) провели научно-практический семинар «Применение новой модели настольного сканирующего электронного микроскопа JCM-7000 с интегрированной системой элементного микроанализа». На семинаре представителем компании Interactive Corporation в России Ильиным Александром была прочитана обзорная лекция «Просвечивающие и сканирующие электронные микроскопы компании JEOL».
Add To
You must login to add videos to your playlists.
Коментарии
Sign In to post comments.
Comments are closed for this video.
Похожее видео
