Результаты поиска
Ключевые слова:: 'Вторичные ионы'
Масс-спектрометр фторичных ионов NanoSIMS. Технология.
19 мая 2016 г. конференц-зал ДВГИ ДВО РАН, научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спект...